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臺(tái)式大倉室自動(dòng)化掃描電鏡

更新時(shí)間:2025-09-08
產(chǎn)品型號(hào):Phenom XL G3
所屬分類:臺(tái)式掃描電鏡
描述:臺(tái)式大倉室自動(dòng)化掃描電鏡全新的易于學(xué)習(xí)的界面可幫助您快速掌握最新信息,是各種應(yīng)用的理想選擇。Phenom XL G3 平均成像時(shí)間僅為 40 秒,比市場上其他臺(tái)式電鏡的速度快 5 倍之多。系統(tǒng)可對(duì)最大 100 x 100mm 的樣品進(jìn)行分析,8nm 的分辨率為分析提供更多的細(xì)節(jié)。設(shè)計(jì)的放氣 / 樣品裝載系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)相對(duì)較快的放氣 / 裝載速度,并獲得非常少有的比較高的樣品吞吐效率。
詳情介紹

飛納臺(tái)式掃描電子顯微鏡

Phenom XL G3  臺(tái)式大倉室自動(dòng)化掃描電鏡質(zhì)量控制自動(dòng)化,多功能臺(tái)式掃描電鏡

 

臺(tái)式大倉室自動(dòng)化掃描電鏡

 臺(tái)式大倉室自動(dòng)化掃描電鏡

80 年電鏡技術(shù)傳承

從飛利浦、FEI到賽默飛,源自*電鏡的成熟設(shè)計(jì)與制造工 藝,穩(wěn)定可靠

無需改實(shí)驗(yàn)室 - 省錢省空間

不挑安裝環(huán)境,內(nèi)置減震系統(tǒng),可直接放置于生產(chǎn)車間、高樓層 QC實(shí)驗(yàn)室等

面向工業(yè) 4.0 的自動(dòng)化與 AI 智能掃描電鏡

開放編程接口,打造定制化的“黑燈實(shí)驗(yàn)室"檢測流程,支持 Maps 地 圖式多模態(tài)、多維度自動(dòng)拼圖及關(guān)聯(lián)

平均 5 年更換燈絲

 3000h CeB6  晶體燈絲,減少維護(hù)頻率和降低使用成本,讓產(chǎn)線 或?qū)嶒?yàn)室長期穩(wěn)定運(yùn)行無憂

低電壓成像功能

對(duì)于不導(dǎo)電、導(dǎo)電性差、以及電子束敏感樣品,不噴金,仍具有 很好的成像能力

電鏡能譜一體化設(shè)計(jì) - 服務(wù)全包,省心省力

簡化采購流程,統(tǒng)一售后服務(wù)。軟件和硬件深度兼容,無需切換軟件。 ChemiSEM彩色成像,實(shí)時(shí)能能譜面掃、相分析、大面積能譜拼圖等 

 

 

 

80 年電鏡技術(shù)傳承

 

飛納電鏡從飛利浦到賽默飛,歷經(jīng)近 80 年技術(shù)沉淀,從最初的構(gòu)想與商業(yè)化,到不斷的技術(shù)創(chuàng)新與突破,始終在電子顯微鏡領(lǐng)域保持領(lǐng)(ling)先地位。

 

 1      飛利浦時(shí)期(1939-1996)

  •    起源:1939  年,Le  Poole  提出電子顯微鏡構(gòu)想,1944  年成功開發(fā)  150kV 電子顯微鏡,奠定技術(shù)基礎(chǔ)。

  •    發(fā)展:1949   年推出第一臺(tái)商業(yè)化電鏡   EM100。后續(xù)不斷推出創(chuàng)新產(chǎn)品,如 1972 年進(jìn)入 SEM 市場,推出 PSEM500。 

 

 2     FEI 時(shí)期(1996-2016)   

  •  合并:1997年,飛利浦電子光學(xué)業(yè)務(wù)與FEI合并,獲得 ESEM 技術(shù),技術(shù)實(shí)力增強(qiáng)。 

  •  創(chuàng)新:2006年推出臺(tái)式掃描電鏡飛納(Phenom),放大倍數(shù)  10000  倍,使用  1500h  長壽命  CeB6    燈絲。

2013 年推出第三代產(chǎn)品,分辨率 17nm,放大倍數(shù) 100000 倍。 

 

 3    賽默飛時(shí)期(2016-至今) 

  •  收購:2016 年,F(xiàn)EI 被賽默飛收購,2018 年 Phenom World 更名為 Thermo Scienti?c 品牌。

  •   傳承與發(fā)展:技術(shù)上繼承 FEI 創(chuàng)新成果,繼續(xù)提升性能,目前除了 CeB6 燈絲系列,還有臺(tái)式場發(fā)射電鏡系列,公安法醫(yī)等 特定領(lǐng)域?qū)S秒婄R,產(chǎn)品線豐富,型號(hào)達(dá)數(shù)十種。

 

臺(tái)式大倉室自動(dòng)化掃描電鏡

 

 平均 5 年更換燈絲

 

擁有超長壽命核心部件,采用 3000 小時(shí)高亮度六硼化鈰(CeB6)燈絲,平均 5 年更換燈絲,確保設(shè)備 7×24 小時(shí)連續(xù)運(yùn)行,減 少維護(hù)頻率和持有成本,讓產(chǎn)線或?qū)嶒?yàn)室長期穩(wěn)定運(yùn)行無憂。

臺(tái)式大倉室自動(dòng)化掃描電鏡


 

不挑安裝環(huán)境,內(nèi)置減震系統(tǒng),可直接放置于生產(chǎn)車間、高樓層  QC  實(shí)驗(yàn)室等,甚至可以車載,野外場景使用。節(jié)省實(shí)驗(yàn)室改造 費(fèi)用,真正做到“買得起,更能用得好"。

 

飛納電鏡曾經(jīng)參與冰島火山口、西班牙無人島等科學(xué)研究項(xiàng)目,是適用于惡劣環(huán)境的便攜掃描電鏡。科研人員采集樣本回到帳篷 中,利用飛納電鏡來確定樣本的化學(xué)構(gòu)成,極大地提高了樣本采集和分析的效率。

臺(tái)式大倉室自動(dòng)化掃描電鏡

臺(tái)式大倉室自動(dòng)化掃描電鏡

 

低電壓成像功能 

PhenomXL G3 配備了全新升級(jí)真空設(shè)計(jì)和背散射探測器 (BSD),優(yōu)化了低電壓下的靈敏度,提升了總體的信噪比 (S/N),對(duì)于不 導(dǎo)電、導(dǎo)電性差、以及電子束敏感樣品,可以使用更低的束流進(jìn)行拍攝,提升分辨率的同時(shí),降低荷電效應(yīng)帶來的影響。

 

由于整體信噪比的提升,我們可以使用更短的采集時(shí)間采集同樣質(zhì)量的照片,在自動(dòng)化工作流程中,高通量照片拍攝的總效率平均提升 30%。

 

臺(tái)式大倉室自動(dòng)化掃描電鏡

太陽能電池金字塔結(jié)構(gòu)

 放大倍數(shù):10,000X

 2kV,未噴金,二次電子像

 可以清晰看到金字塔結(jié)構(gòu)和細(xì)節(jié)

 

臺(tái)式大倉室自動(dòng)化掃描電鏡 

電子陶瓷

 放大倍數(shù):1,000X

 5kV,背散射電子像

 可以觀測到陶瓷內(nèi)晶粒大小和空隙 

 

臺(tái)式大倉室自動(dòng)化掃描電鏡 

CMOS 探測器

 放大倍數(shù):5,000X

 2kV,二次電子像

 可以清晰看到像素單元及其表面污染物

臺(tái)式大倉室自動(dòng)化掃描電鏡

掃描電鏡下未噴金的纖維(上圖),未噴金的紙張(下圖)

 

 

面向工業(yè) 4.0 的自動(dòng)化與 AI 智能掃描電鏡

 

從裝樣到出圖,僅需 1 分鐘,高測試效率,操作員無需漫長等待,檢測通量比傳統(tǒng)電鏡提升 5-10 倍,極大加速了 QC 判斷和研發(fā)迭代。

 

 

臺(tái)式大倉室自動(dòng)化掃描電鏡

  強(qiáng)大的拓展軟件

 

臺(tái)式大倉室自動(dòng)化掃描電鏡

 

從“看"到“算":專業(yè)的自動(dòng)化分析軟件,ParticleMetric   (顆粒統(tǒng)計(jì))、Fiber- Metric (纖維統(tǒng)計(jì)) 等專用軟件。自動(dòng)化完成需要人工數(shù)小時(shí)才能完成的顆粒 度、形貌、尺寸分布等統(tǒng)計(jì)工作,輸出標(biāo)準(zhǔn)化報(bào)告,實(shí)現(xiàn)真正的量化品控。

 

  開放編程接口,打造定制化檢測流程

臺(tái)式大倉室自動(dòng)化掃描電鏡

“深度集成,隨需而變":開放的自動(dòng)化接口,提供 Python 腳本控制 (PPI),可以無 縫集成到客戶現(xiàn)有的自動(dòng)化產(chǎn)線和 LIMS 系統(tǒng)中。精準(zhǔn)的自動(dòng)化馬達(dá)臺(tái),結(jié)合軟件 腳本,一次可容納 36 個(gè)樣品,打造“無人值守的質(zhì)檢工廠",自定義設(shè)定程序,在夜 間或休息時(shí)間對(duì)大批量樣品進(jìn)行自動(dòng)拍照和分析,提高設(shè)備利用率。

 

  一 張圖看全貌,多點(diǎn)分析無遺漏

在晶圓、濾膜、金屬斷口等大樣品上,自動(dòng)獲取全景高清圖,并對(duì)預(yù)設(shè)的關(guān)鍵點(diǎn)位進(jìn)行高倍率分析,確保檢測。

 

臺(tái)式大倉室自動(dòng)化掃描電鏡

 

電鏡能譜一體化設(shè)計(jì) - 服務(wù)全包,省心省力

 

簡化采購流程,統(tǒng) 一 售后服務(wù)。軟件和硬件深度兼容,無需切換軟件,提高研究效率。ChemiSEM彩色成像,實(shí)時(shí)能能譜面掃、相分 析、大面積能譜拼圖等

 

   

ChemiSEM 彩色成像技術(shù)

EDS   能譜儀在電鏡工作時(shí)始終在后臺(tái)收集成分?jǐn)?shù)據(jù),利用算法同時(shí)處理   BSE   和  EDS 信號(hào),從而可以實(shí)時(shí)顯示樣品的形態(tài)和定量元素分布結(jié)果。簡化對(duì)金屬、陶瓷、 電池、涂層和軟材料等多種材料的復(fù)雜分析。

臺(tái)式大倉室自動(dòng)化掃描電鏡臺(tái)式大倉室自動(dòng)化掃描電鏡

 

  ChemiPhase 物相分析軟件

飛納電鏡 ChemiPhase 物相分析軟件是 ChemiSEM 技術(shù)中一種新型物相鑒定和定 量表征手段,旨在通過結(jié)合*的統(tǒng)計(jì)分析和 ChemiSEM SEM-EDS 平臺(tái)來識(shí)別物相,并識(shí)別成分列出其面積分?jǐn)?shù),從而應(yīng)對(duì)這些挑戰(zhàn)。

臺(tái)式大倉室自動(dòng)化掃描電鏡

  Phenom MAPS 大面積圖像拼接

通過層級(jí)的方式,實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的拍攝與數(shù)據(jù)回看。Phenom MAPS 提供的是一個(gè)涵 蓋所有樣品信息的數(shù)碼存檔,從宏觀到微觀無所不包,變革了傳統(tǒng)掃描電鏡的 分析與數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模式。并且,多圖層數(shù)據(jù)可以包含能譜。 

  從元素到材料的飛躍:相分布圖 (Phase Mapping)

專有的在線相分析軟件模塊 (Phase Mapping) ,利用強(qiáng)大的算法,根據(jù)每個(gè)像素點(diǎn)的元素定量結(jié)果,自動(dòng)識(shí)別、分類并標(biāo)定出不同的 “相"或“化合物"。

 

臺(tái)式大倉室自動(dòng)化掃描電鏡

 

 

規(guī)格參數(shù)

 

成像模式

• 光學(xué)顯微鏡:放大倍數(shù):3 - 16 x

•  電子顯微鏡:放大倍數(shù):200,000 x

 

照明

• 光學(xué):明場和暗場模式

•  電子光學(xué):長壽命、高亮度的 CeB6 燈絲

• 加速電壓: 基本模式:2 kV, 5 kV, 10 kV, 15kV 和 20kV

高級(jí)模式:4.8  kV - 20.5  kV 連續(xù)可調(diào),用 于成像和元素分析

• 真空水平:低-中-高三種模式 優(yōu)于 8 nm

• 分辨率: 優(yōu)于 8 nm

• 抽真空時(shí)間:30s

 

 



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傳真:

郵箱:info@phenom-china.com

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